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Andor光譜儀與偵測(cè)器特色:Solis軟件接口可進(jìn)行各種光譜實(shí)驗(yàn)偵測(cè)依光譜儀聚焦長(zhǎng)度可選擇 Kymera 193i、328i 、Shamrock 500i and 750光譜儀雙向輸出設(shè)計(jì)可使用不同光譜范圍之偵測(cè)器自動(dòng)化狹縫控制
聯(lián)系電話:17717527838
品牌 | OXFORD/英國(guó)牛津 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子 |
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Andor光譜儀與偵測(cè)器特色:
√Solis軟件接口可進(jìn)行各種光譜實(shí)驗(yàn)偵測(cè)
√依光譜儀聚焦長(zhǎng)度可選擇 Kymera 193i、328i 、Shamrock 500i and 750
√光譜儀雙向輸出設(shè)計(jì)可使用不同光譜范圍之偵測(cè)器
√自動(dòng)化狹縫控制
Andor光譜儀與偵測(cè)器應(yīng)用:
√吸收-透射-反射(UV-NIR)
√顯微拉曼/熒光光譜
√多通道光譜偵測(cè)
√時(shí)間解析光譜
iDus CCD Cameras
波長(zhǎng)為2.2 µm
200-1100 nm
Newton CCD
200-1100 nm
iVac CCD Cameras
200-1100 nm
iXon EMCCD Camera
200-1100 nm
iDus InGaAs
•iDus 1.7µm InGaAs
900-1700 nm
•iDus 2.2µm InGaAs
1000-2200 nm
無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對(duì)檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測(cè)分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時(shí),我們會(huì)幫助輔導(dǎo)客戶完成整個(gè)分析過程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。
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