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產(chǎn)品展示/ Product display

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Andor光譜儀與偵測(cè)器

Andor光譜儀與偵測(cè)器特色:
Solis軟件接口可進(jìn)行各種光譜實(shí)驗(yàn)偵測(cè)
依光譜儀聚焦長(zhǎng)度可選擇 Kymera 193i、328i 、Shamrock 500i and 750
光譜儀雙向輸出設(shè)計(jì)可使用不同光譜范圍之偵測(cè)器
自動(dòng)化狹縫控制

  • 產(chǎn)品型號(hào):詳詢
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-09-09
  • 訪  問  量:490
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聯(lián)系電話:17717527838

詳細(xì)介紹
品牌OXFORD/英國(guó)牛津應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子

Andor光譜儀與偵測(cè)器特色:

√Solis軟件接口可進(jìn)行各種光譜實(shí)驗(yàn)偵測(cè)

√依光譜儀聚焦長(zhǎng)度可選擇 Kymera 193i、328i 、Shamrock 500i and 750

√光譜儀雙向輸出設(shè)計(jì)可使用不同光譜范圍之偵測(cè)器

√自動(dòng)化狹縫控制


Andor光譜儀與偵測(cè)器

Andor光譜儀與偵測(cè)器應(yīng)用:

√吸收-透射-反射(UV-NIR)

√顯微拉曼/熒光光譜

√多通道光譜偵測(cè)

√時(shí)間解析光譜


iDus CCD Cameras

波長(zhǎng)為2.2 µm

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


Newton CCD

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


iVac CCD Cameras

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


iXon EMCCD Camera

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


iDus InGaAs

•iDus 1.7µm InGaAs

900-1700 nm

•iDus 2.2µm InGaAs

1000-2200 nm


Andor光譜儀與偵測(cè)器


無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對(duì)檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測(cè)分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時(shí),我們會(huì)幫助輔導(dǎo)客戶完成整個(gè)分析過程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。





 
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